透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM）是一种用于观察超微结构的强大工具，它使用经过加速和聚集的电子束来投射到非常薄的样品上。为了确保TEM能够生成高质量的图像，对样品有着严格的要求。以下是一些关于TEM样品要求的关键点：
- 样品的厚度：TEM样品通常需要非常薄，一般要求在100纳米以下，这是因为电子需要穿透样品而生成清晰的图像。对于高分辨电镜样品，这个厚度甚至可以需要小于10纳米。
- 样品的类型：粉末、液体样品均可被用作TEM观察的样品，但是薄膜和块体等无法直接测试，需要通过特殊的方法如离子减薄、双喷、FIB（聚焦离子束）、切片制样等技术处理后才能进行观测。
- 样品状态：样品必须是固体且无毒，无放射性，无污染，无磁性，并且不含水分或易挥发物。含有有机物的样品可能不适合，因为有机物在高压下不稳定，容易被电子束破坏。
- 样品的制备方法：根据样品的不同，制备方法也会有所不同。例如，粉末样品可以通过研磨法或者树脂包埋法来制备；块状样品可能需要通过电解减薄或离子减薄来获得足够薄的区域以供观察。
- 载网与支持膜的选择：TEM样品常常放在直径为3mm的200目载网上并加上支持膜，如方华支持膜、碳支持膜、微栅等。选择哪种类型的支持膜取决于待观察的样品以及所使用的溶剂类型。
准备TEM样品是一项精细的工作，需要严格按照操作规程执行，以确保获得最佳的成像结果。在实际操作过程中，建议与经验丰富的专业人士合作，以确保样品的正确制备和测试。
