在透射电子显微镜（TEM）实验中，样品的制备和放置对结果有着至关重要的影响。一个常见的误区是关于样品滴在铜网（也常称为支持网或承载网）上的哪一面的问题。为了确保实验的准确性和高效性，了解这一点是非常重要的。
我们需要明确铜网的结构。标准的TEM铜网是由一层薄薄的碳膜覆盖在细密的金属网格上制成的。这层碳膜不仅提供了支撑结构，还增强了样品的导电性，有助于减少样品在高能电子束下的电荷积累问题。
当准备TEM样品时，正确的操作是将液体样品滴在铜网具有碳膜的一面。这一面是面向观察者的，也是电子束直接照射到的一面。这样做有几个重要的理由：
保护碳膜：将样品滴在碳膜面上可以防止样品溶液直接接触并可能破坏脆弱的金属网格，从而保持碳膜的完整性和功能性。
提高分辨率：由于碳膜的存在，它提供了一个平滑且相对均匀的背景，有助于提高成像质量，减少背景噪声，使得观察者更容易识别样品中的细微结构。
增强导电性：碳膜的良好导电性能有助于分散由电子束引起的电荷积累，避免因电荷积聚导致的图像失真或损伤样品。
便于操作：通常情况下，铜网会被放置在一个专用的网格架上，碳膜面朝上便于用移液枪或其他微量加样工具准确地将样品施加在指定位置。
在进行TEM样品制备时，应始终将样品滴在铜网带有碳膜的那一面，以确保获得最佳的成像效果和数据分析的准确性。遵循这一基本规则，可以避免许多潜在的问题，并提高透射电子显微镜实验的整体成功率。
